Ankersmid M&C would like to invite you to our:

Thermal Analysis Seminar ‘Thin layers and DSC’

4th of June 2019 10h-12.30h @ Wilrijk

Physical properties of thin-films are becoming more and more important in industries and applications such as phase-change materials, optical disk media, thermoelectric materials, light emitting diodes (LEDs), fuel cells, phase change memories, flat panel displays, and the semiconductor industry in general.

We would like to talk about new techniques for measuring thermal effects on thin layers. Our techniques could determine Seebeck, peltier effects,
Van-Der-Paul effect,…
Please register now your free attendance to the seminar.

Kind regards,

Ankersmid M&C commercial team
Johan Leyssens

 



 

Linseis Nanon layers & Chip- DSC analyzer seminar

Ankersmid en Linseis organiseren op 4juni 2019 een seminarie rond Nano layer analyzers en Chip DSC analyzers. In een korte voorstelling laten wij u de nieuwste revoluties en analyse mogelijkheden zien hieromtrent. Wij voorzien alvast koffie en gebak om u gedurende onze 2uur durende seminarie in alle comfort te informeren.

De Chip DSC is een DSC met een uniek concept.

Met een keramische sensor waarin de verwarming, thermische sensoren en referentiemateriaal op werden ingewerkt, heeft de Chip DSC geen behoefte meer aan een oven of referentie.

Dit unieke concept zorgt dat deze Chip DSC volgende uitzonderlijke eigenschappen kan voorleggen:

·        Een kalibratie van 4materialen in slechts 15minuten met een enkele opwarmsnelheid in het volledige temperatuurbereik.
·        De mogelijkheid om het sample hyper snel af te koelen naar kamertemperatuur in minder dan 3minuten zonder enige koelmiddelen
·        De mogelijkheid om te werken zonder sample cups
·        Een eenvoudig en dus erg goedkoop onderhoud en dagelijks gebruik

Het is het ideale instrument ter ondersteuning van een productieomgeving en voor R&D toepassingen.

Linseis TFA the most complete Nano layer analyzer in the world!

The LINSEIS TFA is a chip-based platform to simultaneously measure the in-plane electrical and thermal conductivity, the Seebeck coefficient as well as the Hall constant of a thin film sample in the temperature range from -170°C up to 280°C and in a magnetic field of up to 1 T. Due to the design of the setup, time consuming preparation steps can be omitted and a nearly simultaneous measurement of the sample properties is achieved. Typical errors caused by different sample compositions, varying sample geometries and different heat profiles are avoided with this measurement method. The system can handle a broad range of different materials. It is possible to measure samples with semiconducting behaviour as well as metalls, ceramics or organics. Therefore many different deposition methods like PVD or spin coating and drop casting are possible to use.

Lees meer

Schrijf je hier in

Dinsdag 4juni om 10.30uur organiseren we in ons demo labo in Wilrijk een seminarie aangaande de Nano layers analyse mogelijkheden gevolgd met de introductie van onze nieuwste Chip DSC mogelijkheden. Wij kunnen live enkele samples meten en voorzien enkele specialisten om op vragen en toepassingen een gepast antwoord te geven.

Planning:
10.30u -12.30u met een korte pauze.

Niet beschikbaar 4juni?

Op 6juni organiseren wij ook een Engelstalige/Franstalige Webinar rond onze Chip DSC technologie en mogelijkheden. 09.30u-10.00u

schrijf je hier in

Brochures

Bekijk alvast onze brochures van de verschillende producten.

download de brochure hier

Copyright © *|CURRENT_YEAR|* *|LIST:COMPANY|*, All rights reserved.
*|IFNOT:ARCHIVE_PAGE|* *|LIST:DESCRIPTION|*Our mailing address is:
*|HTML:LIST_ADDRESS_HTML|* *|END:IF|*Want to change how you receive these emails?
You can update your preferences or unsubscribe from this list.
our privacy policy